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3D AOI检测半导体封装金丝键合

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3D AOI检测半导体封装金丝键合

发布日期:2022-04-26 作者: 点击:

键合金丝是半导体封装用引线键合丝的一种,可在导电性、热传导性、耐腐蚀性、稳定 性、加工性之间取得最佳平衡,让其在高端市场中占据主要地位。


3D Wafer Bump(晶元锡焊)、Wire Bonding(引线键合)AOI检测系统

Wafer Bump 3D AOI

高精度3D Wafer(晶元)检测精密解析度配置可实现针对Foot形态元件的整体检测

可直接检测镜面元件,避免反光问题

奔创特有的3D技术 实现元件的精准3D成型,机器镜头采用同轴照明辅助2D检测。

支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各种封装方式的解决方案

AOI + SPI 混合检测系统

Wafer Bump&Wire Bonding 3D AOI

精密解析度实现针对Bump、Mini LED、009004等各种微型、密集型元件的3D检测 

Wafer Bump 3D AOI


本文网址:/news/585.html

关键词:3DAOI,半导体封装,金丝键合

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